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[IQ測試] 芯片测试

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發表於 2016-6-30 21:04:37 | 顯示全部樓層 |閱讀模式
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芯片测试:有2k块芯片,已知好芯片比坏芯片多.请设计算法从其中找出一片  好芯片,说明你所用的比较次数上限.
0 o7 W. o7 x2 d9 {% H, M! M  其中:好芯片和其它芯片比较时,能正确给出另一块芯片是好还是坏.
+ g+ F1 Z+ [; M- |/ b- N! H  坏芯片和其它芯片比较时,会随机的给出好或是坏。) F& |, E- ]& g: t) X& J# u3 g1 ~

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